抗表皮基底膜抗体

介绍:抗表皮基底膜抗体测定是诊断类天疱疮的的特异性标志抗体。用间接免疫荧光检查,诊断类天疱疮患者血清中有抗表皮基底膜抗体,主要是IgG。间接免疫荧光法实验原理将荧光素标记在相应的抗体上,直接与相应抗原反应。第一步,用未知未标记的抗体(待检标本)加到已知抗原标本上,在湿盒中37℃保温30min,使抗原抗体充分结合,然后洗涤,除去未结合的抗体。第二步,加上荧光标记的抗球蛋白抗体或抗IgG、IgM抗体。如果第一步发生了抗原抗体反应,标记的抗球蛋白抗体就会和已结合抗原的抗体进一步结合,从而可鉴定未知抗体。
【正常值】
IIF法(间接免疫荧光法)阴性。
【临床意义】
阳性大疱性类天疱疮(阳性率70%),妊娠疱疮(阳性率20-25%,使用补体固定的间接免疫荧光技术,阳性率可提高到90%),瘢痕性类天疱疮(阳性率10-30%,多为低滴度)。注意抗体滴度与疾病的活动性不相关。获得性大疱性表皮松懈症及大疱性系统性红斑狼疮者也可为阳性。
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